filmetrics f50系列產(chǎn)品可以快速映射薄膜厚度，每秒兩個(gè)點(diǎn)。電動(dòng)r-theta平臺(tái)可接受標(biāo)準(zhǔn)和定制卡盤(pán)，適用于直徑達(dá)450mm的樣品。（這是在我們的生產(chǎn)系統(tǒng)中執(zhí)行數(shù)百萬(wàn)次測(cè)量的高壽命階段！）
地圖圖案可以是極坐標(biāo)，矩形或線(xiàn)性，也可以創(chuàng)建自己的圖案，但不限制測(cè)量點(diǎn)的數(shù)量。提供了數(shù)十種預(yù)定義的地圖模式。
f50膠片厚度映射系統(tǒng)連接到windows?計(jì)算機(jī)的usb端口，可在幾分鐘內(nèi)完成設(shè)置。
不同的f50儀器主要區(qū)別在于厚度和波長(zhǎng)范圍。標(biāo)準(zhǔn)f50是受歡迎的。通常需要較短波長(zhǎng)（例如f50-uv）來(lái)測(cè)量較薄的薄膜，而較長(zhǎng)的波長(zhǎng)允許測(cè)量較厚，較粗糙和較不透明的薄膜。
膜厚儀又名膜厚測(cè)試儀，分為手持式和臺(tái)式二種，手持式又有磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀，電渦流鍍層測(cè)厚儀，熒光x射線(xiàn)儀鍍層測(cè)厚儀。手持式的磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。
臺(tái)式的熒光x射線(xiàn)膜厚儀，是通過(guò)一次x射線(xiàn)穿透金屬元素樣品時(shí)·產(chǎn)生低能量的光子，俗稱(chēng)為二次熒光，,在通過(guò)計(jì)算二次熒光的能量來(lái)計(jì)算厚度值·
filmetrics f50膜厚儀的常見(jiàn)故障及處理方法
[1]?涂鍍層測(cè)厚儀/膜厚儀的常見(jiàn)故障及處理方法 今天為大家講解涂鍍層測(cè)厚儀（簡(jiǎn)稱(chēng)膜厚儀）使用頻繁、工作環(huán)境等原因造成儀器測(cè)量時(shí)有故障總結(jié)使用中常見(jiàn)故障及處理方法：
折疊涂鍍層測(cè)厚儀儀器不開(kāi)機(jī)：
①請(qǐng)檢查確認(rèn)電池是否有電，或更換新的電池。
②請(qǐng)檢查電池是否接觸良好，且電極片沒(méi)有氧化或生銹等-（如生銹—可用工具刮掉氧化層）
③請(qǐng)檢查按鍵是否按壓到位，且按鍵正常有彈性。
④其它主機(jī)線(xiàn)路故障咨詢(xún)公司售后服務(wù)或返廠(chǎng)檢修
折疊涂鍍層測(cè)厚儀儀器測(cè)量不準(zhǔn)：
①請(qǐng)先行系統(tǒng)校準(zhǔn)儀器，標(biāo)定，使之符合誤差范圍誤差遵循≦3%(厚度值）±1um如需測(cè)試更加請(qǐng)?jiān)诒粶y(cè)工件的光滑裸基（而不是隨機(jī)帶的的鐵塊）進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)。
②請(qǐng)檢查探頭前端是否磨損，是否變形，有附著物質(zhì)等探頭外護(hù)套是否不在水平等,變形可適當(dāng)用砂紙打磨修正，處理干凈.
③被測(cè)件基材表面粗糙度影響，引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差測(cè)量時(shí)在不同位置增加測(cè)量次數(shù)，克服偶然誤差。或用砂紙打磨基材重新校對(duì)儀器零點(diǎn)。
④測(cè)量手法以及探頭的放置需保持探頭與試樣垂直
⑤被測(cè)件曲度在該探頭所適應(yīng)的曲率半徑下，重新校準(zhǔn)。尤其管道凸面，注意探頭v型卡槽穩(wěn)定放置。
折疊涂鍍層測(cè)厚儀儀器不測(cè)量：
①檢查探頭是否連接良好，插到位 查看探頭插頭插針情況
②檢查探頭線(xiàn)是否有斷的地方重點(diǎn)檢查探頭接插件處（接頭處可以旋鈕擰開(kāi)查看）
③探頭頻繁大量使用，傳感器老化或損壞等
④其它主機(jī)線(xiàn)路元件故障咨詢(xún)公司售后服務(wù)或返廠(chǎng)檢修