對于新設(shè)計組裝的電路來說，常見的故障原因有：
(1)實驗電路與設(shè)計的原理圖不符;元件使用不當(dāng)或損壞;
(2)設(shè)計的電路本身就存在某些嚴重缺點，不能滿足技術(shù)要求，連線發(fā)生短路和開路;
(3)焊點虛焊，接插件接觸不良，可變電阻器等接觸不良;
(4)電源電壓不合要求，性能差;
(5)儀器作用不當(dāng);
(6)接地處理不當(dāng);
(7)相互干擾引起的故障等。
檢查故障的一般方法有：直接觀察法、靜態(tài)檢查法、信號尋跡法、對比法、部件替換法旁路法、短路法、斷路法、暴露法等，下面主要介紹以下幾種：
1. 直接觀察法和信號檢查法：與前面介紹的調(diào)試前的直觀檢查和靜態(tài)檢查相似，只是更有目標(biāo)針對性。
2. 信號尋跡法：在輸入端直接輸入一定幅值、頻率的信號，用示波器由前級到后級逐級觀察波形及幅值，如哪一級異常，則故障就在該級;對于各種復(fù)雜的電路，也可將各單元電路前后級斷開，分別在各單元輸入端加入適當(dāng)信號，檢查輸出端的輸出是否滿足設(shè)計要求。
3. 對比法：將存在問題的電路參數(shù)與工作狀態(tài)和相同的正常電路中的參數(shù)(或理論分析和仿真分析的電流、電壓、波形等參數(shù))進行比對，判斷故障點，找出原因。
4. 部件替換法：用同型號的好器件替換可能存在故障的部件。
5. 加速暴露法：有時故障不明顯，或時有時無，或要較長時間才能出現(xiàn)，可采用加速暴露法，如敲擊元件或電路板檢查接觸不良、虛焊等，用加熱的方法檢查熱穩(wěn)定性差等等。