zl2690b介質(zhì)損耗測(cè)試儀工作原理
zl2690b介質(zhì)損耗測(cè)試儀是一種*的測(cè)量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（cx）的儀器，用于工頻高壓下，測(cè)量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（cx）測(cè)量。儀器具有操作簡(jiǎn)單、無(wú)需數(shù)據(jù)換算、中文菜單顯示、并自帶打印功能、抗*力強(qiáng)、測(cè)試速度在國(guó)內(nèi)同類(lèi)產(chǎn)品中zui快的優(yōu)點(diǎn)。
zl2690b介質(zhì)損耗測(cè)試儀工作原理:
儀器測(cè)量線(xiàn)路包括一路標(biāo)準(zhǔn)回路和一路測(cè)試回路：
1、標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高壓穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與標(biāo)準(zhǔn)電阻網(wǎng)絡(luò)組成，由計(jì)算機(jī)實(shí)時(shí)采集標(biāo)準(zhǔn)回路電流與測(cè)試回路的電流幅值及其相位差，并由之算出被測(cè)試品電容容值（cx）和其介質(zhì)損耗（tgδ）。
2、數(shù)據(jù)采集電路全部采用高壓穩(wěn)定器件，采集板和采集計(jì)算機(jī)被鐵盒*浮空屏蔽，儀器外殼地屏蔽；另外使用了光導(dǎo)數(shù)據(jù)、浮空地、大面積地、單點(diǎn)地、數(shù)字濾波等抗干擾技術(shù)，加之計(jì)算機(jī)對(duì)數(shù)百個(gè)電網(wǎng)周期的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，使測(cè)量結(jié)果穩(wěn)定、、可靠。
zl2690b介質(zhì)損耗測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo):
1、環(huán)境溫度：0 ～40℃
2、相對(duì)濕度：30% ～70%
3、供電電源：電壓：220v±10%、頻率：50±1hz
4、外形尺寸：500mm×300mm×400mm
5、重量： 約18kg
6、輸出功率：0.6kva
7、顯示分辯率：3位、4位（內(nèi)部全是6位）
8、測(cè)量范圍及輸出電壓選擇：
介質(zhì)損耗（tgδ）：±0.00～±999%
試品電容容量（cx）和加載電壓：
2.5kv檔:≤300nf（300000pf） 3kv檔:≤200nf（200000pf）
5kv檔:≤76nf（76000pf） 7.5kv檔:≤34nf（34000pf）
10kv檔:≤20nf（20000pf）
9、基本測(cè)量誤差：
介質(zhì)損耗（tgδ）：1%±7個(gè)字（加載電流20ua～500ma）
介質(zhì)損耗（tgδ）：2%±9個(gè)字（加載電流5ua～20ua）
電容容量（cx）：1.5%±1.5pf
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