膜厚儀的使用注意事項
1.零點校準
在每次使用膜厚儀之前需要進行光學(xué)校準，因為之前的測量參數(shù)會影響該次對物體的測量，零點校準可以消除前次測量有參數(shù)的影響，能夠降低測量的結(jié)果的誤差，使測量結(jié)果更加。
2.基體厚度不宜過薄
在使用膜厚儀對物體進行測量時基體不宜過薄，否則會大程度的影響儀器的測量精度，造成數(shù)據(jù)結(jié)果不準確，影響測量過程的正常進行。
3.物體表面粗糙程度
對于被測物體的表面不宜太過粗糙，因為粗糙的表面容易引起探頭接觸不到，降低了涂層測厚儀的測量精度，造成很大的誤差。所以被測物體的表面應(yīng)該盡量保持光滑，以保證測量結(jié)果的性。
膜厚儀的適用范圍非常廣泛，從普通家用到工廠的工業(yè)生產(chǎn)，在到后的大學(xué)實驗室和科學(xué)研究所，均可以看到它的身影，由此可見它的使用范圍更加廣泛，能夠作業(yè)的場合也變得更加多樣化。