四探針電阻率方阻測試︱四探針探頭的選擇
四探針電阻率方阻測試︱四探針探頭的選擇：
四探針探頭是四探針法測試電阻率/方阻測試系統(tǒng)的關(guān)鍵部件。探頭通過四根探針，以適當(dāng)?shù)膲毫忘c陣形式與樣品接觸，連接四探針儀器后，實現(xiàn)四探針法電流的加載，電壓的取樣。應(yīng)根據(jù)樣品的物理特性，如是固體還是粉末，是一般硅片、金屬等硬質(zhì)材料還是柔性薄膜、涂層、ito膜類材料，是單一導(dǎo)電層材料還是復(fù)合導(dǎo)電層，樣品的尺寸大小等條件來選擇探頭的壓力和點陣形式，選擇型號。
表2《四探針探頭型號規(guī)格特征選型參照表》
序號
型號
名稱
特征圖片
規(guī)格參數(shù)
選用場合
1
st2253-f01
鎢針直線四探針探頭
直線四探針針距：1+1+1，探針：碳化鎢針
硅片、金屬等硬材料電阻率/方阻測試
2
st2558a-f01
光伏電池片方阻直線四探針探頭
直線四探針針距：2+2+2，探針：長鋼尖針
硅材料光伏電池片方阻測試
3
st2558a-f02
薄膜方阻刀型測試臺
刀型測試臺刀距100，刀寬100
柔性薄膜、金屬涂層膜方阻測試
4
st2558b-f01
薄膜方阻直線四探針探頭
直線四探針針距：2+2+2，探針：鍍金磷銅半球形針尖
柔性薄膜、金屬涂層膜、ito膜電阻率/方阻測試
5
st2558b-f02
箔上涂層電阻率方阻四端子探頭
針距8，直徑4探針：圓柱平端面
箔上涂層電阻率/方阻測試
6
st2558b-f03
薄膜方阻直線四探針探頭
直線四探針針距1+1+1，探針：鍍金磷銅半球形針尖
柔性薄膜、金屬涂層膜、ito膜電阻率/方阻測試
7
st2571a-f01
薄膜方阻矩形四探針探頭
矩形四探針針距1x1探針：碳化鎢針
硅片電阻率和方阻儀
8
st2571a-f02
薄膜方阻矩形四探針探頭
矩形四探針針距1x1探針：鍍金磷銅半球形針尖
柔性薄膜、金屬涂層膜、ito膜電阻率/方阻測試
9
st2571a-f03
薄膜方阻矩形四探針探頭
矩形四探針針距2x2探針：鍍金磷銅半球形針尖
柔性薄膜、金屬涂層膜、ito膜電阻率/方阻測試