quelltech 激光掃描儀利用三角測量原理來檢測表面的二維輪廓。通過特定的光學組件，點狀激光束被擴展為一條線并投射到感興趣的對象上。反射激光線的漫射光被物鏡以一定角度捕獲，然后導向二維接收芯片。根據(jù)已知的距離和角度，為 x 水平（激光線）中的每個像素計算準確的校準高度值 (z)，從而在樣本的 下面文章將為您具體講解下《優(yōu)勢供應electronica激光掃描儀q6》等內容，還請感興趣的繼續(xù)閱讀了解一下，謝謝!
quelltech 激光掃描儀利用三角測量原理來檢測表面的二維輪廓。通過特定的光學組件，點狀激光束被擴展為一條線并投射到感興趣的對象上。反射激光線的漫射光被物鏡以一定角度捕獲，然后導向二維接收芯片。
根據(jù)已知的距離和角度，為 x 水平（激光線）中的每個像素計算準確的校準高度值 (z)，從而在樣本的 x-z 平面中產生準確的輪廓。如果掃描儀在樣品（y 軸）上引導，則會創(chuàng)建一系列輪廓，在空間中形成三維點云。 該點云可以通過軟件進行尺寸控制。
性能特點
分辨率低至24 µm用于非常有光澤的材料的特殊算法不同的高動態(tài)范圍 (hdr) - 反射率差異很大的物體的模式反射率差異很大的物體的多斜率模式不同的觸發(fā)方式，2個觸發(fā)輸入（編碼器輸入rs422）在芯片上設置多個測量窗口自動跟蹤測量窗口多掃描儀應用的主從配置存儲在激光掃描儀中的用戶配置在制造商現(xiàn)場單獨進行極其準確的校準帶防護系統(tǒng) ip67 的外殼*genicam 和 gigevision 接口標準，用于連接已知的圖像處理軟件工具軟件開發(fā)工具包圖像處理軟件
技術參數(shù)
掃描儀類型：50-178
z范圍： 50 mm
x 起點范圍：165 mm
x 中間范圍（標稱）：178 mm
x 端范圍：190 mm
距離z- 起點范圍：123 mm
工作距離z-中間范圍：148 mm
x分辨率：86.91μm
z分辨率：2.13μm
產品應用
錫膏用量監(jiān)督
連接器的銷直線度測量
表面凸度測量
間隙測量和控制
尺寸穩(wěn)定性的在線檢測
食物分份
鐵路用鋼軌型材檢驗
飛機襟翼和副翼的角度設置
印刷電路的檢查
產品參數(shù)
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