一、軸承環(huán)道(raceway)
頻譜上會出現(xiàn)bpfi(or bpfo)及倍頻的高峰(peak)。bpfi具有rps的調(diào)變(modulate)旁波，而bpfo僅有bpfo的倍頻產(chǎn)生。
當(dāng)環(huán)道有瑕疵時，振動分析儀頻譜上bpfi(or bpfo)處會出現(xiàn)一尖而窄的高峰(peak)。當(dāng)瑕疵逐漸增大，此高峰會慢慢變成一寬頻區(qū)并會調(diào)變(modulate)rps。此情形發(fā)生時，振動分析儀頻譜會產(chǎn)生寬頻區(qū)，有尖高峰產(chǎn)生在bpfi(or bpfo)及bpf±rps的地方，當(dāng)瑕疵更大時，bpf可能會消失，整個頻譜會形成一系列的尖峰，而各峰間之頻率差值為rps。上述公式bpf指的是滾球每轉(zhuǎn)一周經(jīng)過瑕疵面的次數(shù)。實驗顯示當(dāng)瑕疵并不大，不致影響轉(zhuǎn)動時，其頻譜上出現(xiàn)的是單一尖峰，當(dāng)瑕疵大得足以影響旋轉(zhuǎn)體時，bpf就會調(diào)變rps，這種調(diào)變會使bpf產(chǎn)生邊耳(side lobe)而bpf與邊耳之頻差為rps，當(dāng)瑕疵再增大，bpf會消失，代之而起的是一系列的尖峰，其峰間的頻差等于rps。
這種現(xiàn)象適用于徑向及軸向負荷。發(fā)生在內(nèi)環(huán)及外環(huán)之瑕疵，其現(xiàn)象是類似的，差別為：在相同程度的瑕疵時，外環(huán)所因而產(chǎn)生的振幅會遠高于內(nèi)環(huán)所產(chǎn)生的。其原因之一為內(nèi)環(huán)產(chǎn)生的信號必須經(jīng)過較長的路程。
二、軸承滾動元件(rolling elements)
bsf與倍頻頻率處出現(xiàn)高峰振動，并存在rps的調(diào)變。
滾動元件有瑕疵會在bsf或數(shù)倍bsf或ftf處產(chǎn)高峰。其頻譜可能有兩種型態(tài)：一為在上述頻率處出現(xiàn)窄頻尖峰；一為上述頻率調(diào)變自然頻率，齒輪嚙合頻率(meshfreq)bpf或其他有關(guān)的頻率，當(dāng)?shù)诙N情形發(fā)生時，其頻譜將是寬頻區(qū)的。bsf的出現(xiàn)，并不意味滾動元件有瑕疵，當(dāng)保持器在鉚合處破裂或保持器使?jié)L動元件無法圓滑滾動時會產(chǎn)生bsf。一般而言，滾動元件有瑕疵會伴隨環(huán)道的瑕疵出現(xiàn)。
三、軸承過度松動
頻譜上出現(xiàn)一倍rps及若干倍rps．并有低振幅、寬頻區(qū)等特性。
過度松動是具有推拔套管(taper)之球形滾柱軸承所經(jīng)常碰到的問題。這問題的發(fā)生有很多原因,但不管原因如何，其頻譜上一定會出現(xiàn)一倍rps及若干倍rps．并有低振幅、寬頻區(qū)等特性。
四、軸承保持器(cage)
保持器一般是最后才發(fā)生毛病的，標準的損壞順序為：環(huán)道滾動元件保持器。保持器損壞相當(dāng)嚴重時，會使?jié)L動元件結(jié)合成堆發(fā)出很大的噪音。
如前所述，某些保持器有瑕疵時會出現(xiàn)bsf，抗磨軸承及平軸承(sleeve bearing)均會出現(xiàn)。除了製造上產(chǎn)生的問題外，保持器一般是最后才發(fā)生毛 病的，標準的損壞順序為：環(huán)道滾動元件保持器。當(dāng)保持器損壞嚴重時，會使頻率游移不定，因此在固定圖上無法表現(xiàn)出來，但用即時分析儀則可分析出來。當(dāng)保持器損壞相當(dāng)嚴重時，會使?jié)L動元件結(jié)合成堆而發(fā)出很大的噪音。
五、軸承潤滑不良
造成的信號是：在頻譜900至1600hz間會產(chǎn)生多個高峰，其峰間相差80至130hz。
潤滑不良造成的信號是：在頻譜900至1600hz間會產(chǎn)生多個高峰，其峰間相差80至130hz，潤滑良好的軸承也會有這種情形，但其振幅相當(dāng)?shù)?，大約是1 mm/sec或更低，潤滑不良時則振幅可達2.5或5mm/sec，迅速地加以潤滑會使振幅下降至合理程度，否則，由潤滑不良造成的損壞是非常迅速的。
六、軸承多重瑕疵
在頻譜上出現(xiàn)的頻率，其值需經(jīng)加減運算才能知其原因。
在頻譜上出現(xiàn)的頻率，其值需經(jīng)加減運算才能知其原因的情形經(jīng)常會碰到，這時頻譜上并不出現(xiàn)bsf、bpf、ftf等基本頻率，而是這些頻率的代數(shù)運算值。單一瑕疵很容易確定，但要分析複雜頻率并不簡單，一個的方法是：先將bsf、fte、bpf等基本頻率求出，再將頻譜上的頻率以試差法(try and error)加以一一試出。